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            GK-HTGB-C16高溫柵偏實驗系統
            系統能滿足各種封裝形式的MOSFET、IGBT等器件的高溫柵偏試驗。
            工作原理:
            將被測量元件放置在一定的環境溫度中,給被測元件的柵極施加一定的偏置電壓。同時測控系統實時檢測每個材料的漏電流、電壓,并根據預先設定,當被測材料實時漏電流超過設定值時,自動切斷被測材料上的電壓,可以保護被測元件不會進一步燒毀。
            heating
            高溫加熱
            內部加熱 保持不壞
            真金不怕火煉,超強耐高溫
            超級耐高溫
            保持高品質
            內部加熱原理
            產品參數 Product parameters
            GK-HTGB-C4
            ★符合標準:
            符合MIL-STD-750、AEC-Q101等試驗標準要求。
            ★適用范圍:
            系統能滿足各種封裝形式的MOSFET、IGBT等器件的高溫柵偏試驗。
            ★工作原理:
            將被測量元件放置在一定的環境溫度中,給被測元件的柵極施加一定的偏置電壓。同時測控系統實時檢測每個材料的漏電流、電壓,并根據預先設定,當被測材料實時漏電流超過設定值時,自動切斷被測材料上的電壓,可以保護被測元件不會進一步燒毀。
            服務熱線
            0571-8585 6333
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