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            GK-ECBS-F8分立器件綜合老化試驗系統
            適用于各種封裝(包括表面貼裝)形式的中、小功率二極管、三極管、場效應管、可控硅、集成穩壓器、光電耦合器、電阻等元器件的穩態壽命試驗(CFOL)和間歇壽命試驗(IFOL)和功率老煉篩選。
            技術特點:
            ①一板一區,可滿足16種不同試驗參數的器件同時老化。
            ②被試器件DUT老化電源采用智能程控方式供給,極性自動轉換;
            ③數據庫加載導入,自動完成試驗過程,方便操作使用。
            ④完善、標準的老化器件庫及各種老化板,解決了用戶的后顧之憂。
            heating
            高溫加熱
            內部加熱 保持不壞
            真金不怕火煉,超強耐高溫
            超級耐高溫
            保持高品質
            內部加熱原理
            服務熱線
            0571-8585 6333
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