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            GK-MHDT-B16存儲器高溫動態老化測試系統
            系統適用于各種封裝形式的SRAM,DRAM,SDRAM ,FLASH,DDR,RDRAM等器件進行高溫動態老化篩選,并且在老化過程中對被試驗器件(DUT)進行功能測試(TDBI)。
            技術特點:
            ①一板一區,可滿足16種不同試驗參數的器件同時老化。
            ②具有強大的圖形發生及圖形測試能力。
            ③可根據用戶的需求,定制各種老化板及測試程序。
            heating
            高溫加熱
            內部加熱 保持不壞
            真金不怕火煉,超強耐高溫
            超級耐高溫
            保持高品質
            內部加熱原理
            服務熱線
            0571-8585 6333
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